Диагностика, ремонт и защита


Технология самотестирования накопителей S M A R T (SelfMonitoring Analysis and Reporting Technology)



Технология самотестирования накопителей S.M.A.R.T. (Self-Monitoring Analysis and Reporting Technology)

В самое последнее время для обслуживания жестких дис­ков начали применять технологию самотестирования накопи телей S.M.A.R.T. (Self-Monitoring Analysis and Reporting Technology) предложили корпорации IBM и Compaq на базе ранее разработанных ими технологий PFA (Predictive Failure Analysis) и DFP (Drive Failure Prediction)

Суть S.M.A.R.T.-технологии заключается в том, что сам винчестер отслеживает состояние своей работоспособности и в любой момент, по команде с интерфейса может сооб­щить эту информацию управляющей программе.

Новая технология стандартизирована организацией ANSI при разработке нового IDE-интерфейса — АТА-3. В насто­ящее время практически все производители НЖМД (Fujitsu, IBM, Maxtor, Quantum, Seagate, Western Digital) исполь­зуют S.M.A.R.T.-технологию в своих новых накопителях.

Параметры, которые характеризуют состояние S.M.A.R.T.-накопителя, называются атрибутами надежности. Их значе­ния хранятся в энергонезависимой памяти или на служебных дорожках НЖМД. Количество атрибутов может достигать тридцати.

По мере износа накопителя или при появлении сбоев в работе (в том числе и незаметных для пользователя) значе­ния атрибутов изменяются.

Условно все атрибуты надежности можно разбить на две категории.









Начало  Назад  Вперед


Книжный магазин